10.3969/j.issn.1007-3175.2020.12.007
绕组半匝结构引起的变压器磁芯过热案例分析
对一起直流开关电源中的高频变压器磁芯过热的原因进行了分析,在有限元软件中建立变压器模型,通过场路耦合的方法,对磁芯磁密、损耗进行仿真.仿真结果表明,变压器原边绕组分数匝结构是导致该起事故的主要原因.提出相应改进措施,经仿真和实际测试验证,绕组匝数取整后,解决了上述问题.
开关电源、变压器、磁芯饱和、过热、原边绕组
TM433(变压器、变流器及电抗器)
2021-02-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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