一起GIS自由颗粒放电缺陷的处理分析

摘要：

特高频(UHF)检测技术对于自由颗粒放电缺陷不敏感,易造成信息遗漏.研究了超声波检测方式在自由颗粒放电检测中的应用,介绍了超声波技术的原理,总结了自由颗粒放电的典型图谱特征作为现场检测判据,利用GIS局放模拟装置实验平台验证了超声波在对自由颗粒缺陷的检测方面优于特高频.通过一起典型自由颗粒放电缺陷案例,验证超声波检测模式的有效性,并从现场检测等多角度提出合理化建议.

关键词：自由颗粒放电、特高频检测、超声波检测、图谱

分类号：TM595;TM85(电器)

资助基金：广东电网有限责任公司科技项目031900kk52160023

在线出版日期：2020-09-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：37-42