10.3969/j.issn.1007-3175.2013.12.002
基于压电晶体的微质量检测系统研究进展
压电晶体传感器利用压电石英晶体振荡频率对晶体表面质量负载和表面性状的高度敏感性,来实现对物质微质量的检测。介绍了压电晶体传感器的原理,给出了检测系统的硬件组成及数据处理与分析软件设计,分析了其应用现状,并对该检测系统的发展趋势进行了展望。
压电晶体传感器、微质量、检测系统
TP212(自动化技术及设备)
2013-12-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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