一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法

摘要：

IDDQ测试是一种新的集成电路测试方法和技术.这种测试是在多种输入逻辑条件下测试电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期火效器件.介绍了一种新型的IDDQ开路和短路测试方法;利用模拟开关和简单的电流源并利用带A/D模块的MCU组成一个开路和短路测试电路.该方法既节省成本,又能实现简单的智能学习.

关键词：IDDQ测试、微控制器、电流源、模拟开关、CMOS芯片

分类号：TM930.12

在线出版日期：2009-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：50-53