10.3969/j.issn.1000-4742.2011.02.006
基体表面性质对引线框架上无铅镀锡层的影响
研究了铜基引线框架基体表面性质对镀锡层的影响.扫描电镜(SEM)和X射线衍射(XRD)分析结果表明:镀层外观由其结晶结构决定.采用X射线光电子能谱(XPS)研究了铜基引线框架表面性质的影响.结果表明:引线框架表面铜的氧化状态对于最终所得镀锡层的性质有很大影响,当引线框架表面存在大量的CuO时,得到的镀锡层易于出现发黑等质量缺陷.研完了相应的解决方法,对于因基体表面性质引起的镀层发黑等质量问题,可以通过加强镀前去氧化解决,也可以通过增强添加剂的极化作用予以改善.
镀锡、基体、引线框架
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TQ153
2011-06-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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