基于神经网络的IGBT模块剩余使用寿命预测模型

摘要：

对IGBT模块使用寿命进行预测是评估其健康状态和可靠性的有效手段.基于IGBT老化实验测量,构建了包括饱和压降和结温的二维IGBT状态检测指标.对于归一化后的数据,提出了分段处理方法,去除了 IGBT键合线断裂引起的较大指标波动.以饱和压降和结温数据为基础,提出了基于BP神经网络算法的IGBT剩余寿命预测模型.针对同样本不同通道、不同实验条件样本等情况,验证了本模型在剩余寿命预测中的准确性.

关键词：IGBT模块寿命预测、老化机理、分段拟合、神经网络

所属期刊栏目：60

分类号：TM93

资助基金：国家重点研发计划2018YFB0905705

在线出版日期：2023-02-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：132-138