500kV绝缘子串含零值绝缘子时的电晕放电分析

摘要：

由于绝缘子串中含有零值绝缘子可能会导致输电线路雷击跳闸事故，本文基于有限元法研究了绝缘子串中含零值绝缘子的电场分布，并结合紫外检测仪观测电晕放电综合研究绝缘子串的电晕放电情况。建立了绝缘子串的三维模型，考虑了绝缘串子中含有零值绝缘子时的情况，并对该模型进行了电场仿真，同时通过紫外检测技术观测了含零值绝缘子的绝缘子串电晕放电，而且电场分析结果与实测数据相符，零值绝缘子附近电场发生畸变，紫外观测数据显示零值绝缘子附近发生了电晕放电。零值绝缘子导致的电场畸变是零值绝缘子附近发生电晕放电的重要原因之一，该研究可用于高压输变电设备外绝缘状况紫外检测的诊断与评估。

关键词：500kV绝缘子串、零值绝缘子、电晕放电、电场分析、紫外检测

分类号：TM151;TM835;TM851(电工基础理论)

在线出版日期：2014-04-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：50-54