IGBT功率模块材料抗热冲击性能的研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

IGBT功率模块材料抗热冲击性能的研究

引用
针对在大功率、高频应用场合,IGBT模块存在着非常严重的功率损耗问题,基于材料物理及其性能分析的相关理论,研究了IGBT模块内部各层材料的热稳定性。在已知IGBT模块内部各层材料的性能参数,运用材料热力学相关理论,探究了各层材料的抗热冲击断裂性能,并计算了各层材料所能经受的最大升温速率。上述理论经理论计算与有限元方法分析证明:IGBT模块内部的热稳定性问题主要由热损伤引起的;IGBT模块的热冲击作用并不是直接造成其各层材料断裂的主要原因。

失效机理、热稳定性、热应力、抗热冲击断裂因子

TM933

2014-02-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

42-46

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电测与仪表

1001-1390

23-1202/TH

2013,(12)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn