FFT方法在ADC有效位测试中的应用探讨

摘要：

介绍了ADC的性能参数和有效位（ENOB）的计算公式，在分析了ADC的性能参数测试方法后，给出ADC的ENOB测试解决方案。对FFT方法在ADC的ENOB测试中的应用做了深入探讨，对频谱泄露现象给出了包括相干采样和加窗函数等在内的解决方案。采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行ENOB测试，得到ADS5400在400 MSps采样率情况下的有效位ENOB=9.12 Bits（fin=1.123MHz）。

关键词：ADC性能参数、FFT、频谱泄露、相干采样、窗函数、有效位

分类号：TM930.1

在线出版日期：2013-12-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：14-17,83