一种新颖IP核复用SOC的DFT结构--BS-TW

摘要：

提出了一种基于IP复用SOC的新颖DFT结构--BS-TW(Boundary Scan TestWrapper),此结构把边界扫描单元作为IP的测试围绕单元,实现了测试并行化,并对测试进入机制TAM进行了优化设计.经验证,用BS-TW结构实现的DFT能同时实现IP复用SOC的低测试开销和高故障覆盖率的目标.

关键词：边界扫描、测试开销、TAM、测试围绕环、测试并行化

所属期刊栏目：42

分类号：TN702(基本电子电路)

资助基金：上海市科委资助项目027062031

在线出版日期：2005-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：55-57,25