用于辐照效应实验的带微处理器电路的故障测试系统

摘要：

研制了一个用于对带微处理器电路进行辐照效应实验的故障测试系统,它既能自动检测出电磁脉冲(EMP)对电路的干扰,也能检测出EMP对电路的硬损伤.文中分别给出了干扰级和损伤级效应结果的测试方法,并用高功率微波脉冲对系统中的受试电路单元进行辐照效应实验,结果表明本系统能够完成各项检测功能.这为研究带微处理器电路的电磁防护措施提供了有力工具.

关键词：电磁脉冲、辐照效应、带微处理器电路、故障测试

所属期刊栏目：40

分类号：TP27(自动化技术及设备)

资助基金：国家自然科学基金50077024,重点50237040

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：31-33,46