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10.3969/j.issn.1001-1579.2009.03.006

电解刻蚀集流体铜箔对负极性能的影响

引用
用扫描电镜、交流阻抗谱和恒流充放电等方法,分析了电解刻蚀集流体铜箔对纳米硅和微晶石墨负极性能的影响.电解刻蚀后,铜箔表面形成了沟壑式形貌,与负极材料紧密接触;以0.1 C充放电,纳米硅和微晶石墨负极的首次充放电效率分别提高了7.0%和7.3%,第30次循环的放电比容量分别从192 mAh/g、325 mAh/g提高到217 mAh/g、358 mAh/g.

集流体、铜箔、电解刻蚀、纳米硅、微晶石墨、负极

39

TM912.9

"十一五"科技支撑计划项目2008BAE60B00

2009-07-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1001-1579

43-1129/TM

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2009,39(3)

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