基于XPS的苹果表皮残留农药界面层的氩刻分析

摘要：

针对果皮表面残留农药进行微观深度探测及分析.结果表明,苹果表皮氧乐果及敌敌畏随施药浓度及施药时间的残留沿纵向深度变化呈现非线性规律性,主要残留部位为果实表皮的角质层区距表面8μm,氧乐果残留分布的规律性强于敌敌畏.

关键词：苹果表皮、XPS、残留农药、深度分析

所属期刊栏目：41

分类号：O4-33

资助基金：黑龙江省教育厅科学技术研究项目11531260

在线出版日期：2010-07-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：131-134