10.3969/j.issn.1001-3830.2013.03.017
钡永磁铁氧体半成品的 XRF 法定量测定
介绍了 X 射线荧光光谱法(XRF)在钡永磁铁氧体半成品分析中的应用,对比了粉末压片和玻璃熔片两种制样方法,使用熔片法制样建立标准曲线测定了其中的 Fe、Ba 等元素的含量。结果表明,Fe、Ba 等元素含量的测定偏差<0.3%,平行测定9次相对标准偏差(RSD)可达到0.5%以下。与传统化学法测定相比, XRF 可同时测定两种元素,测定每个样品仅需要1min,极大地提高了工作效率。
X 射线荧光光谱、钡永磁铁氧体、铁含量、钡含量
TM277;TH744.16(电工材料)
2013-07-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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