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10.3969/j.issn.1001-3830.2008.06.002

磁性薄膜高频磁导率测量方法及其研究进展

引用
磁性薄膜广泛应用于信息存储、电磁兼容、磁传感器和微波通讯设备等众多领域,其高频复磁导率谱的准确测量是磁性薄膜研究中的一个重要课题.目前薄膜材料复磁导率的常用测量方法包括微波谐振腔法、检测线圈法和传输/反射法等.首先简要介绍了谐振腔法和检测线圈法,然后重点介绍了微波频率(GHz)下磁性薄膜传输/反射法磁导率测量近年来最新研究进展.

磁性薄膜、GHz、复磁导率、测量

39

O484.4+3;TM936.4(固体物理学)

2009-03-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

5-8

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磁性材料及器件

1001-3830

51-1266/TN

39

2008,39(6)

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