10.3969/j.issn.1001-3830.2006.04.003
Ni100-xBx纳米薄膜的结构与磁性
用化学沉积法制备了Ni100-xBx(x=1.95,2.13,2.40,3.90,6.70)纳米磁性薄膜系列样品.X射线衍射(XRD)分析表明,所有样品的晶粒尺寸均在6~12nn之间.利用振动样品磁强计测量了样品的磁学参数.发现该系列样品的晶格常数、晶粒尺寸、饱和磁化强度均随B含量的增大而减小,并且均在x=2.40附近出现转折点,表现出相同的变化趋势.
Ni100-xBx磁性薄膜、化学沉积法、微结构、磁性能
37
O6(化学)
2006-09-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
11-13