玻璃盘基对高密度硬盘介质静态磁性参数测量的影响和消除方法

摘要：

高密度硬盘介质静态磁性参数的精确测量对研制高密度硬盘至关重要.本文从测量系统和材料两方面对玻璃基噪声的影响机理做了较详尽的分析;并介绍了消除玻璃基噪声影响的四种方法,这四种方法在测量同一硬盘介质静态磁性参数时相对偏差小于5%,因此这四种方法都是切实可行的.

关键词：高密度硬盘、玻璃基、静态磁性参数、磁滞回线

所属期刊栏目：35

分类号：TQ587.22

资助基金：高等学校博士学科点专项科研项目20010487021

在线出版日期：2004-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：44-46