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10.3969/j.issn.1001-3830.2001.01.015

玻璃基片和石英试杆对磁光薄膜居里温度测量的影响及其消除方法

引用
在磁光薄膜居里温度的测量中,当薄膜的磁化强度信号与石英试杆和玻璃基片的磁化强度信号具有同一数量级时,石英试杆和玻璃基片对薄膜居里温度的确定引入了很大的误差。提出了消除石英试杆和玻璃基片影响的三种方法。实验结果表明,由三种方法消除石英试杆和玻璃基片影响后所确定得到的磁光薄膜居里温度相对偏差小于5%。因此,三种消除石英试杆和玻璃基片影响的方法是切实可行的。

石英试杆、玻璃基片、直接重写磁光记录薄膜、居里温度、Ms~T曲线

32

TM938.82

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

60-62,46

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磁性材料及器件

1001-3830

51-1266/TN

32

2001,32(1)

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