烧结NdFeB磁体镀层缺陷分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-3830.2001.01.002

烧结NdFeB磁体镀层缺陷分析

引用
应用SEM、EDAX观察分析了烧结NdFeB磁体金属Ni镀层麻点、洼坑等缺陷处的基体显微组织,发现镀层缺陷部位磁体显微组织皆为异常粗大晶粒区。从磁体制造工艺角度讨论了镀层缺陷产生的原因,提出了避免镀层缺陷的途径。

烧结NdFeB、镀层缺陷、显微组织

32

TF125.8(冶金技术)

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

5-8

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

磁性材料及器件

1001-3830

51-1266/TN

32

2001,32(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn