基于降温法的直接重写磁光记录薄膜居里温度的快速测量

摘要：

在测量单层或多层磁光记录薄膜的居里温度时,为了达到有目的测量和提高测量的效率,采用了在快速升温过程中(＜5min),在感兴趣的温度范围里观察被测薄膜Ms～T曲线变化的全过程;然后,初步判断薄膜的居里温度可能在哪个温度区域里,决定是否需要精确测量;最后,若决定测量 ,选择居里温度附近的一段温度区域里利用降温过程测量.整个测量过程比采用逐步升温、并在每个恒定的温度上读取饱和磁化强度Ms的方法节省大量的时间.只要选择一类响应时间快的热电偶,可以达到与逐步升温方法同样的测量精度.

关键词：直接重写磁光记录薄膜、Ms～T曲线、居里温度、降温法

所属期刊栏目：31

分类号：TM938.82

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：8-11