10.3969/j.issn.1001-3830.2000.03.003
磁光记录薄膜的偏振特性分析
光线入射至磁光记录薄膜表面时,由于其入射角和方位角不同,导致磁光薄膜的偏振特性有较大变化,本文运用电磁场理论,对磁光记录薄膜偏振特性随入射角和方位角变化进行了分析.
磁光记录薄膜、偏振特性、入射角、方位角
31
O484.4+1(固体物理学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
10-14
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10.3969/j.issn.1001-3830.2000.03.003
磁光记录薄膜、偏振特性、入射角、方位角
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O484.4+1(固体物理学)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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