基于三维X射线显微镜的孔隙性砂岩中变形带微观结构解析

摘要：

孔隙性砂岩中变形带对揭示其相关地质作用过程和工程应用具有重要的意义,而其微观结构是其相关科学与工程研究的关键点.常规的岩石微观结构分析手段对于全面解析岩石内部的微观结构具有一定的局限性,而近年发展起来的三维X射线显微成像技术可以无损地获得岩石内部微米尺度的三维精细数字化图像,是建立岩石微观结构并对其进行解析的有效手段.通过三维X射线显微镜对孔隙性砂岩中变形带扫面,建立了高分辨率三维微观结构图像,利用高密度切片图像,对其微观结构特征进行解析.根据变形带微观产出状带和颗粒破碎过程的解析,建立颗粒破碎-破碎颗粒与残余破碎颗粒重新排列-局部颗粒破碎带-弱颗粒破碎变形带-强颗粒破碎变形带-强弱颗粒破碎变形带相间排列-簇状变形带的完整时间发育序列.

关键词：三维X射线显微镜、孔隙性砂岩、变形带、微观结构、发育序列

所属期刊栏目：28

分类号：P315(大地（岩石界）物理学（固体地球物理学）)

资助基金：国家自然科学基金"孔隙性砂岩地层中变形带非均质性研究"41602157

在线出版日期：2019-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：167-174