高密度电阻率法在果香峪溶洞勘查中的应用效果分析

摘要：

地下岩溶的发育影响着地面基础工程的安全使用,所以,我们要对岩溶地区发育特征进行全面的了解,以采取相应的措施保证该地区地面建筑的安全。溶洞的空间赋存状态一般是不规则的三维地质体,它的发育与地下水系及该地区的地质构造有紧密联系,造成溶洞的洞室可能含有高阻或低阻填充物,导致溶洞与围岩之间存在物性差异。高密度电阻率法正是利用物性差异达到识别溶洞的方法。常规的二维高密度电法受制于旁侧效应造成视电阻率断面图不能准确地反映地质状况,而三维高密度电法的效率低下和探测深度比较浅,这两种方法都不能很好地识别溶洞的特征。本文在概要介绍高密度电阻率法的基础上,以果香峪测区的溶洞勘查为例,重点论述了水平切片图法在资料解释中的应用及其效果,该方法是对常规二维高密度电阻率法的采集资料进行水平切片处理,实现三维资料解释的效果。

关键词：溶洞、高密度电阻率法、水平切片图、三维特征、三维解释

所属期刊栏目：20

分类号：P631.322

资助基金：国家重点基础研究发展计划973计划2011CB710600

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：301-310