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基于MCNP对CT系统中探测器材料性能的研究

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探测器是辐射成像系统中的关键器件之一,探测器的性能优劣和成像系统的最终指标关系密切,因此在做成像系统设计时关于探测器的物理计算足非常关键的内容.本文利用MCNP模拟了3种闪烁体材料的性能指标(粒子探测效率,能量沉积率,有效沉积因子)是设计高能辐射成像系统的基础工作之一,具有借鉴意义.

CT系统、探测器、MCNP

20

TL816(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

2011-06-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

63-71

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CT理论与应用研究

1004-4140

11-3017/P

20

2011,20(1)

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