工业X-CT散射校正技术综述

摘要：

在工业X-CT成像系统中,散射现象对重建图像的质量有重要的影响,一直是CT研究的热点之一.随着工业X-CT系统的最新发展,锥束CT也逐渐被广泛应用,由于成像质量要求高,散射成二维分布,及新型平板探测器的应用,对散射校正带来更大的挑战.在传统的散射校正方法基础上,近几年出现了众多新的校正方法.本文首先分析了散射干扰的形成原理,介绍了散射评估方法,同时又对目前主要的几种校正方法进行了归纳总结,并对散射校正研究的发展趋势进行了展望.

关键词：X射线、工业CT、散射校正、蒙特卡罗模拟、射束衰减网格、初级射线调制

所属期刊栏目：18

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：河南省基础与前沿技术研究计划项目072300450240

在线出版日期：2010-01-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：34-43