IBIS-S测量系统及精度分析

摘要：

微波干涉测量技术逐渐成为对大型建筑物进行“非接触式”监测的重要手段之一。本文以IBIS-S系统为例，介绍了微波干涉测量的关键技术，并对系统的精度进行了测试。测试结果表明：该系统的测量精度能够达到亚毫米级，能够实现高精度的微变形监测。

关键词：IBIS-S、干涉测量、精度分析

分类号：P204(一般性问题)

在线出版日期：2015-05-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：119-121