后牙区颊侧牙槽骨微植体支抗植入区域骨皮质厚度CBCT测量分析

摘要：

目的:通过对上下颌骨后牙区颊侧在不同高度下的骨皮质厚度进行测量和统计分析,为选择微植体支抗植入的最适位点提供理论依据,提高植入后的稳定性.方法:选择重庆医科大学附属口腔医院正畸科患者锥形束CT(Cone-beam CT,CBCT)影像资料30例,测量上下颌骨尖牙远中到第二磨牙间根间区距牙槽嵴顶3、5、7 mm位点处骨皮质厚度,并对测量数据进行统计分析.结果:下颌后牙区颊侧骨皮质厚度大于上颌(P＜O.001),上颌在尖牙到第一磨牙间骨皮质厚度在距离牙槽嵴顶5mm处最小,下颌及上颌第一磨牙和第二磨牙间颊侧骨皮质随距牙槽嵴顶增大而增大.结论:后牙区颊侧骨皮质厚度随前后向和垂直向位置的变化而变化,微植体支抗植入时应考虑这一因素,上颌尖牙到第一磨牙间应尽可能选择离牙槽嵴顶远或者尽可能近的位置,上颌第一磨牙和第二磨牙间及下颌后牙区应尽可能选择离牙槽嵴顶远位置.

关键词：锥形束CT、骨皮质厚度、种植体支抗、牙槽骨

所属期刊栏目：37

分类号：R783.5(口腔科学)

在线出版日期：2012-07-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：147-150