10.3969/j.issn.1673-825X.2006.z1.005
嵌入式存储器在SoC中的可测性设计
随着半导体工艺的发展,SOC芯片的规模越来越大,工艺尺寸却越来越小,并且内嵌的存储器在芯片中所占的比例也越来越大,传统的存储器可测性技术受到严峻的挑战,针对存储器的可测性技术及其在SOC中的实现进行了介绍和讨论.
存储器内建自测试、可测性设计、SOC、ASIC
TN407(微电子学、集成电路(IC))
国家高技术研究发展计划863计划2004AA123150
2006-08-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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