10.3969/j.issn.1000-582X.2006.09.022
厚度为d的薄膜中激子及其边界极化对其能级的影响
研究了在厚度为d的薄膜中的激子能级和由于边界极化效应对激子能级的影响;这种影响归结为电子和空穴的镜像电荷对电子与空穴的相互作用.结果发现,这种相互作用对激子的能级有所降低以及对有机薄膜和无机薄膜(它们的介电常数不同)的材料,这种相互作用对激子能级的影响大不相同.
极化与激子、薄膜、能级
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O471.3(半导体物理学)
2006-11-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
94-98,110