X射线残余应力的层析扫描测定

摘要：

针对常规X射线残余应力测定法和美国X2001应力仪测定方法存在的问题,提出了测定低原子序数材料内部三维应力的层析扫描方法,对装置和测定原理进行了讨论,设计出适合于层析扫描测定方法的计算机程序.根据提供的试验数据,能够对这类材料表面及内部任意一点进行全三维应力分析,计算应力及梯度和被测材料的晶面间距,并有一套计算的自我控制机制.

关键词：X射线应力分析、X射线积分法、层析扫描

所属期刊栏目：23

分类号：TG115.22;TG115.23;TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：100-103