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10.11868/j.issn.1001-4381.2016.09.010

硫化时间对固态硫化铜锌锡硫薄膜性能的影响

引用
采用固态硫化法硫化铜锡锌(CZT)预制膜制备铜锌锡硫(Cu2 ZnSnS4,CZTS)薄膜,研究硫化时间对CZTS薄膜性能的影响.利用X射线衍射仪(XRD)和紫外拉曼光谱仪(Raman)分析薄膜的物相结构,通过X射线能谱仪(EDS)分析薄膜的化学组分,采用扫描电镜(SEM)观察薄膜的表面形貌,利用UV-Vis研究薄膜的光学特性.结果表明:随着硫化时间延长,Cu含量增加,Zn含量明显减少.硫化40min以上制备的薄膜出现导致禁带宽度减小的杂相SnS,Sn2S3和Cu2 SnS3.当硫化时间为20min时,样品为单相的CZTS薄膜,薄膜表面均匀平整,化学组分贫Cu富Sn,吸收系数达104 cm-1,禁带宽度Eg约为1.56eV.

磁控溅射、铜锌锡硫薄膜、固态硫化、硫化时间

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TB332;TM615(工程材料学)

国家自然科学基金资助项目61504029;广东省联合培养研究生示范基地人才培养项目2013JDXM27;高等学校博士学科点专项科研基金20124420110007

2016-11-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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材料工程

1001-4381

11-1800/TB

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2016,44(9)

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