SiO2陶瓷与TC4钛合金的钎焊研究

摘要：

采用AgCu共晶钎料钎焊SiO2陶瓷与TC4钛合金,形成了良好接头.通过扫描电镜(SEM),能谱分析(EDS)以及X射线衍射分析(XRD)明确了接头生成物,确定了接头界面结构为TCA/Ti2Cu+Ti(s,s)/Ti2Cu/TiCu+Ti3Cu4+Ag(s.s)/Ag(s.s)+Cu(s.s)+TiCu/TiCu+Cu2Ti4O/Al2(SiO4)O+TiSi2/SiO2.研究了钎焊温度和保温时间对界面的影响,结果表明:当钎焊温度为850℃,保温时间为5min时,接头抗剪强度最高,其值为30MPa.

关键词：SiO2陶瓷、钎焊、界面组织、接头强度

分类号：TG454(焊接、金属切割及金属粘接)

资助基金：国家自然科学基金50705022;哈尔滨工业大学优秀团队支持计划资助

在线出版日期：2008-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：13-16