阵列感应测井响应的井洞影响分析

摘要：

井洞影响是井径变化致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因.在建立井洞影响计算模型的基础上,数值计算分析了井洞径向深度、纵向宽度、井眼泥浆电导率和地层电导率变化对阵列感应测井各子阵列的影响特征.结果表明,井洞影响在子阵列1和2的曲线上显示为假层存在;其他子阵列会出现凸或凹尖峰异常,在高电阻率地层出现负值;数据合成处理异常,深探测深度曲线分辨率高于浅探测深度;低泥浆电导率与地层电导率差别大,井洞影响严重;当地层电导率较低时,井洞的负影响会使响应出现负值异常,致使后续处理出错;随着井眼半径的增大,短子阵列表现为假层,较长子阵列的异常明显.通过几何因子解释了井洞影响导致曲线异常的原因.实际测井曲线的井洞影响实例验证了井洞影响数值模拟结果的有效性.

关键词：阵列感应测井、井洞影响、数值模拟、几何因子、电阻率、响应曲线

所属期刊栏目：32

分类号：P631.81

在线出版日期：2009-03-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：498-502