高压对LDLT5450岩性密度测井仪Pe值刻度的影响
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1004-1338.2008.01.022

高压对LDLT5450岩性密度测井仪Pe值刻度的影响

引用
LDLT5450岩性密度测井仪是EILog-05测井系统中的重要井下仪器之一.用三角形近似伽马能谱分析了光电倍增管高压对岩性窗(LITH)和密度窗(LL、LU)计数影响的差别,得到了Pe测量值会随高压增加而增加的认识.仪器在刻度器上的测量结果验证了此认识,并表明应注意高压对Pe值的刻度参数的影响.

岩性密度测井仪、高压、光电吸收指数、刻度

32

P631.63

2008-05-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

80-82

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

测井技术

1004-1338

61-1223/TE

32

2008,32(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn