阵列感应测井仪刻度系数特性研究

摘要：

刻度系数是阵列感应测井仪器的关键参数.在阵列感应测井刻度理论基础上,导出刻度系数计算公式,计算分析了短、中和长3个子阵列的刻度系数随刻度环半径及其在仪器轴向上所处位置的变化特性.结果表明,不同子阵列的特性差异较大,尤其是长子阵列,并用各子阵列的二维几何因子解释了其产生的原因.讨论了刻度环大小选择、最佳刻度点和刻度电阻确定问题.这些研究结果可用于阵列感应测井仪器刻度中.

关键词：阵列感应测井、刻度系数、刻度环、几何因子

所属期刊栏目：30

分类号：P631.32

在线出版日期：2006-11-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：400-403