不同分布模式电离层对星载InSAR测高精度的影响及校正

摘要：

电离层总电子含量( TEC)会使合成孔径雷达干涉测量( InSAR)信号产生相位延迟，进而影响生成DEM的精度，特别是对L和P等长波段信号的影响不可忽略。因此，针对不同TEC分布模式的电离层开展研究，构建了电离层对星载InSAR测高精度的影响模型，提出了相应的校正方法，并进行了仿真实验。实验表明对于特定波长的InSAR信号，不同TEC分布模式对InSAR测高精度的影响不同：TEC均匀分布的电离层模型对InSAR测高精度的影响较小，并可通过相位解缠、基线估计等环节进行很好的补偿；而TEC不均匀分布的电离层模型对InSAR精度的影响较大，仅靠相位解缠等过程不能较好地消除，必须通过向干涉图中加入电离层影响模型予以纠正。

关键词：电离层总电子含量、合成孔径雷达干涉测量、相位延迟、测高精度、基线估计

分类号：P237(摄影测量学与测绘遥感)

资助基金：国家863计划项目2013AA0408；地理信息工程国家重点实验室开放研究基金项目SKLGIE2014-M-3-1。

在线出版日期：2015-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：288-293