长度基线溯源问题探讨

摘要：

介绍了长度基线的3种校准方式,分析了因瓦尺和光电测距仪校准基线的不确定度,在1000 m距离上,二者都能达到1 mm的扩展不确定度(k=2).用3台精密测距仪在芬兰、北京、郑州、成都等地基线场的6期实验数据,说明维塞拉基线、因瓦尺基线、光电测距基线三者之间存在3 mm/km的系统性差异,提出了解决差异的建议.

关键词：长度基线、校准、因瓦尺、光电测距仪、维塞拉干涉仪

所属期刊栏目：28

分类号：P241(测绘仪器)

在线出版日期：2011-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：157-160