高光谱亚像元定位的线特征探测法
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

高光谱亚像元定位的线特征探测法

引用
未考虑地物亚像元级空间结构特征是影响高光谱亚像元定位精度的因素之一.为了有效解决这一问题,本文提出一种基于混合像元线特征探测的亚像元定位算法.首先,通过光谱解混确定含典型线状地物的混合像元.然后,基于完备直线集的最大线性指数方法确定其余含线特征的混合像元,使用模板匹配方法结合像元引力确定含线特征混合像元的亚像元类别.最后,基于线性优化的方法迭代确定剩余混合像元的亚像元类别.通过真实数据及仿真数据的试验,结果表明所提出的方法能有效提高亚像元定位精度.

图像处理、亚像元定位、空间相关性、线特征探测、模板匹配

48

P237(摄影测量学与测绘遥感)

国家自然科学基金61671408,61571170;教育部联合基金6141A02022350;上海航天科技创新基金SAST2016028

2019-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共11页

1464-1474

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

测绘学报

1001-1595

11-2089/P

48

2019,48(11)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn