国产POS与SWDC集成检校精度分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.13474/j.cnki.11-2246.2014.0056

国产POS与SWDC集成检校精度分析

引用
结合国产化集成设备对基于POS直接地理定位中的集成检校关键技术进行阐述,给出集成检校技术路线,并利用实际航摄资料检校集成系统中视准轴误差,分析基于WGS-84坐标系的不同检校条件的检校结果,以及国产POS直接对地定位目标的精度.试验表明,经过严密检校之后的POS,在WGS-84坐标系下可以获得较高的直接地理定位精度,能够满足大比例尺测图要求;同时,在硬件上将IMU测量中心、相机中心、GPS天线相位中心尽量安置在载体坐标系的一条垂线上,更容易实现直接地理定位.最后对后续试验提出一些建议.

POS、直接地理定位、集成检校技术、精度分析

P231(摄影测量学与测绘遥感)

国家863计划重点项目2008AA121303;科技部支撑项目J1101;国家测绘地理信息局基础项目2011A1001

2014-03-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

67-71

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

测绘通报

0494-0911

11-2246/P

2014,(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn