基于降采样处理的低空遥感影像SIFT特征匹配分析

摘要：

针对影像数据降采样预处理对SIFT特征匹配数量和精度的影响进行试验分析，并对在相同采样频率下不同插值方法导致特征匹配数量与精度的差异进行详述，提出在满足影像分辨率要求的前提下，使用三次卷积内插方法进行80％～90％的降采样预处理，可以获得最大的特征匹配数量且满足匹配精度，而所需要的时间开销则减少20％～30％，具有重要的应用价值。

关键词：降采样、SIFT特征点、匹配分析

分类号：P237(摄影测量学与测绘遥感)

资助基金：国家自然科学基金NSFCA0601081;教育部新世纪优秀人才计划资助

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：18-20