10.3771/j.issn.1009-2307.2006.04.020
基于多片空间后方交会的CCD相机检校
近年来,CCD相机逐步应用于近景摄影测量、低空摄影测量.影响摄影测量成果精度的重要因素之一是相机的技术参数,因此相机技术参数的检校是保证成果质量能否满足精度要求的关键问题之一.文中通过单片空间后方交会和多片空间后方交会的比较试验,分别对两种方法实施了精度分析和可靠性分析,总结得出多片空间后方交会是一种更为可靠的CCD相机检校方法,且运用多片空间前方交会方法进一步验证了多片空间后方交会检校成果的可靠性.
CCD相机、检校、实验场、多片空间后方交会、多片空间前方交会
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P234.1(摄影测量学与测绘遥感)
高比容电子铝箔的研究开发与应用项目2003AA133040;辽宁工程技术大学校科研和教改项目2004004
2006-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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