10.13873/J.1000-9787(2016)02-0052-03
基于SEM图像的碳纳米管薄膜均匀性表征方法研究
将多壁碳纳米管综合了超声处理和高速离心等分散工艺单分散后,采用喷射吸滤法制备碳纳米管薄膜,并研究超声时间对薄膜分布均匀性的影响.基于多重分形理论和SEM图像分析多壁碳纳米管薄膜的形态学特征.碳纳米管薄膜的分布均匀性主要取决于多重分形谱宽度Δa和最大、最小概率子集维数的差别ΔF等分形参数.多重分形分析弥补了传统的表面评价和统计分析的不足.该碳纳米管薄膜均匀性表征方法将为碳纳米管薄膜的制备提供指导.
喷射吸滤、碳纳米管薄膜、SEM图像、多重分形谱、均匀性
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TP206.1(自动化技术及设备)
航空科学基金资助项目2012ZD5401,05G54009
2016-03-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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