基于SEM图像的碳纳米管薄膜均匀性表征方法研究

摘要：

将多壁碳纳米管综合了超声处理和高速离心等分散工艺单分散后,采用喷射吸滤法制备碳纳米管薄膜,并研究超声时间对薄膜分布均匀性的影响.基于多重分形理论和SEM图像分析多壁碳纳米管薄膜的形态学特征.碳纳米管薄膜的分布均匀性主要取决于多重分形谱宽度Δa和最大、最小概率子集维数的差别ΔF等分形参数.多重分形分析弥补了传统的表面评价和统计分析的不足.该碳纳米管薄膜均匀性表征方法将为碳纳米管薄膜的制备提供指导.

关键词：喷射吸滤、碳纳米管薄膜、SEM图像、多重分形谱、均匀性

所属期刊栏目：35

分类号：TP206.1(自动化技术及设备)

资助基金：航空科学基金资助项目2012ZD5401,05G54009

在线出版日期：2016-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：52-54,57