3种空隙率测量建模方法的比较研究

摘要：

介绍了测量空隙率的电容层析成像(ECT)系统,分析了ECT测量空隙率的基本原理.简述了3种空隙率测量建模方法,即分别基于遗传算法-偏最小二乘(GA-PLS)算法、蚁群算法(ASA)和最小二乘支持向量机(LS-SVM)的建模方法.建模数据均来自ECT传感器获取的电容值.在此基础上,提出了以ECT传感器为信息获得手段的空隙率测量建模的统一框架.通过实验数据对3种方法进行了评价,对它们从泛化误差、最大误差、平均误差和测量时间几个角度进行了比较.结果表明:LS-SVM方法的精度最高,泛化能力最强.

关键词：空隙率测量、电容层析成像、遗传算法、蚁群算法、最小二乘支持向量机

所属期刊栏目：28

分类号：TP391;O359(计算技术、计算机技术)

资助基金：甘肃省自然科学基金资助项目3ZS062-B25-016;甘肃省教育厅科技计划资助项目20865

在线出版日期：2010-01-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：49-51,55