10.3969/j.issn.1000-9787.2004.10.007
超磁致伸缩薄膜/光纤的制备及其磁探测性能
采用磁控溅射工艺在光纤表面制备了厚度均匀的TbDyFe超磁致伸缩薄膜.利用马赫-曾德尔干涉仪对TbDyFe超磁致伸缩薄膜/光纤传感器的磁探测性能进行了实验测试.结果表明:在调制频率f=1kHz附近,传感器对磁场具有最大的信号响应;在恒定直流磁场及调制磁场强度小于1kA/m的条件下,输出信号大小随调制磁场强度线性增加;在35~50kA/m的直流磁场范围内,传感器(对应1m长传感臂)可探测的最小磁场变化Hmin=8.6×10-2A/m,若采用分辨力为10-6rad的干涉仪并增加镀膜光纤的长度和薄膜厚度,则可进一步提高传感器的磁探测灵敏度.
磁控溅射、光纤传感器、超磁致伸缩薄膜、马赫-曾德尔干涉仪
23
TP212.13;TN253(自动化技术及设备)
2004-12-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
18-21