中波红外孔径编码光谱成像仪的杂散光分析与校正

摘要：

基于DMD器件的中波红外孔径编码光谱成像技术具有光通量大、信噪比高、实时性好等优点.为解决现有中波红外孔径编码光谱成像仪存在的杂散辐射问题,构建了光谱成像仪仿真模型,确定了系统杂散辐射的主要来源和具体传播路径、计算了成像光谱仪各个部分对整体杂散光辐射的贡献值.最终确定杂散光主要来源为成像仪内部DMD机械边框的自发辐射.提出了局部控温法抑制系统的杂散光.还提出了一种基于差分编码掩模序列的杂散光抑制方法,从编码和解码的角度进一步校正了系统的杂散辐射.并设计实验,验证杂散光抑制方法的有效性.

关键词：光谱成像、孔径编码、杂散光分析、杂散辐射

所属期刊栏目：46

分类号：O433.4(光学)

资助基金：国家自然科学基金;吉林省重点科技计划项目;吉林省重点科技计划项目

在线出版日期：2023-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：34-42