1064 nm连续激光辐照硅基PIN探测器输出电流恢复时间的实验研究

摘要：

光电探测器是激光及其应用系统中非常重要的一部分,当硅基PIN光电探测器受到激光辐照时,光电探测器的光电性能下降,其造成的损伤效果可以采用光电探测器的电学性能表征.对此,开展1064 nm连续激光辐照硅基PIN探测器输出电流恢复时间的实验研究,搭建相应的实验系统,选择合适的激光参数辐照硅基PIN光电探测器,监测其输出电流恢复时间的变化规律,得出输出电流恢复时间的影响机理.结果表明:随着激光功率密度的增加,硅基PIN光电探测器输出电流的恢复时间也随之增加.外置偏压对输出电流的恢复时间没有影响.

关键词：1064 nm连续激光、PIN光电探测器、输出电流、恢复时间

所属期刊栏目：45

分类号：TN249(光电子技术、激光技术)

资助基金：吉林省教育厅科学技术研究项目;吉林省自然科学基金

在线出版日期：2022-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：7-11