基于热效应的长脉冲激光对硅基PIN恢复时间影响的研究

摘要：

研究了长脉冲激光对硅基PIN光电探测器输出信号的恢复时间影响机制,基于热效应,建立了长脉冲激光对硅基PIN光电探测器恢复时间的模型.实验测量了不同偏压、脉宽和能量密度下硅基PIN探测器的恢复时间,得到了恢复时间的变化规律.结果表明:偏置电压对恢复时间几乎没有影响,而脉宽和能量密度对其影响较大.这主要是因为脉宽和能量密度引起的温度变化比较显著,而温度影响非平衡载流子寿命,从而导致其恢复时间的变化.

关键词：长脉冲激光、硅基PIN光电探测器、恢复时间

所属期刊栏目：45

分类号：TN249(光电子技术、激光技术)

资助基金：吉林省教育厅科学技术项目JJKH20200731KJ

在线出版日期：2022-08-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：21-27