10.3969/j.issn.1672-9870.2014.01.020
探针对原子力显微镜成像的影响
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)的一个重要应用就是对样品表面的微纳米级尺寸特征进行成像,但在扫描成像的过程中,由于针尖的影响作用,使得扫描所获图像是原子力探针和样品共同作用的结果,而不是样品形貌的真实描述。本文通过用具有不同形状、尺寸针尖的探针对同一样品进行成像,将所得图像进行分析、对比,模拟和实验结果表明,为获得更准确的特征尺寸成像,对有不同特征尺寸的样品,需要选择适合的探针对其实施成像。
原子力显微镜、特征尺寸、成像、针尖形状
TP14(自动化基础理论)
国家重大基础研究计划973,2012CB326406;欧盟第七研究框架计划LaserNaMi247644;ECNANOMAN269219;国家国际科技合作计划2012DFA11070;国家自然科学基金61176002;教育部博士点基金20112216110002;吉林省科技发展计划201115157,20110704;广东省科技发展计划2011B010700101;长春市科技创新平台11KP04
2014-03-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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