10.3969/j.issn.1672-9870.2014.01.013
磁控溅射制备Ti-Zn-O复合薄膜及其光学性质研究
TiO2是作为一种宽禁带半导体材料可作为紫外器件,但因其间接带隙结构、禁带宽度仅为3.0eV等特点,严重影响其应用范围。本文利用共溅射技术,通过Zn掺杂,在K9玻璃基底上制备了Ti-Zn-O复合薄膜,并研究了Zn溅射功率对其结构及光学性质的影响。结果显示:所制备的薄膜为ZnTiO3和不饱和TiO2的复合结构,随着Zn粒子的溅射能量增加,晶粒尺寸和表面粗糙度增加,并可将薄膜本征吸收边蓝移至3.61eV。
磁控溅射、掺杂、复合薄膜、禁带宽度
O484.1(固体物理学)
吉林省环保厅科技项目2011-32;吉林省教育厅应用基础研究2013-378
2014-03-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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