白光高压LED的加速老化实验研究

摘要：

　　在120℃的环境温度下，对两组GaN基白光高压发光二极管（HV LED）进行了电流对比加速老化实验。实验中，分别向两组HV LED通入20mA和30mA的恒流电流，通过其老化前后光色电性能参数、I-V曲线以及光照度的变化，分析老化的内在机理；根据样品在不同波段的光谱能量变化及其比值，找出LED老化中主要的影响因素。研究结果表明，随着老化时间的增加，芯片电极的欧姆接触退化，以及芯片材料中的缺陷增多，使HV LED电极脱落、芯片发生严重断裂，从而导致芯片老化失效。

关键词：高压芯片、GaN、HV LED、加速老化、失效

分类号：TM23(电工材料)

资助基金：国家自然科学基金资助项目61177019，61176048

在线出版日期：2013-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

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